Gambar Produk
![]() | ![]() | ![]() | ![]() |
![]() | ![]() | ![]() | ![]() |
![]() | ![]() | ![]() | ![]() |
![]() | ![]() | ![]() | ![]() |
![]() | ![]() | ![]() | ![]() |
Informasi Produk
pin pogo tipe alas polos
MENGEMAS:
Dalam jumlah besar: kantong aluminium foil.
Kumparan: diameter Φ330mm; lebar pita pembawa: 12, 16, 24, 32, 44mm.
=================================================================================
Kinerja listrik | ||||
---|---|---|---|---|
1 | Impedansi kontak | 30 mohm Max pada langkah kerja | Standar pengujian pabrik Top-Link* | |
2 | Resistansi Isolasi | Tegangan Minimum 500 Mohm | EIA-364-21 | |
3 | Tegangan Tahan Dielektrik | Tidak ada flash-over, pelepasan udara, kerusakan atau kebocoran | EIA-364-20 | |
4 | Kenaikan Suhu vs Nilai Arus | 30 °C Maks. kenaikan suhu pada arus tertentu | EIA-364-70 | |
Kinerja mekanis | ||||
1 | Gaya pegas | lihat gambar produk | EIA-364-04 | |
2 | Kekuatan Retensi | 0,5Kgf(4,5N)Min. | EIA-364-29 | |
3 | Daya tahan | 10.000 siklus Min. Tidak ada kerusakan fisik Resistensi setelah pengujian 30 mohm Maks. | EIA-364-09 | |
4 | Getaran | Tidak ada kerusakan fisik, Tidak ada diskontinuitas listrik lebih dari 1i detik. | EIA-364-28 | |
5 | Kejutan Mekanis | Tidak ada kerusakan fisik, Tidak ada diskontinuitas listrik lebih dari 1i detik. | Metode A EIA-364-27 | |
Lingkungan | ||||
1 | Kemampuan penyolderan | area cakupan solder Min.95% | EIA-364-52 | |
2 | Korosi Semprotan Garam | Tidak ada kerusakan fisik. Resistansi setelah uji maks. 100 mohm. | EIA-364-26 kondisi B | |
3 | Ketahanan terhadap panas solder (IR/konveksi) | Tidak ada retak, pecah, meleleh, atau melepuh | EIA-364-56 | |
4 | Kelembaban | Tidak ada kerusakan fisik, Resistansi setelah pengujian 100 mohm Maks. | EIA-364-31, metode ii, kondisi A | |
5 | Kejutan Termal | Tidak ada kerusakan fisik, Resistansi setelah pengujian 100 mohm Maks. | EIA-364-32, metode ii | |
6 | Suhu Hidup | Tidak ada kerusakan fisik, Resistansi setelah pengujian 100 mohm Maks. | EIA-364-17,kondisi A,kondisi 4 | |
Lingkungan | ||||
1 | kekuatan kupas | 10-130 gf | EIA-481 | |
2 | Uji Jatuh | Lihat Standar Uji Jatuh Molex |